Информация о книге

ISBN978-5-9031-8784-3
Полочный индекс1961892
Индекс ББКВ333я73
Другие авторыПронин В. П.
Рыжов И. В.
Хинич И. И.
ЗаглавиеОсновы практической работы на сканирующем электронном микроскопе
Продолжение заглавияучебное пособие
ОтветственностьФедеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена"
Место изданияСанкт-Петербург:Фора-принт
Год издания2017
Объем75 с.
БиблиографияБиблиография : с. 75 (15 назв.)
Илл.ил., прил.
АннотацияУчебно-методическое пособие "Основы практической работы на сканирующем электронном микроскопе" состоит из нескольких дополняющих друг друга частей. В них рассматриваются принципы работы основных типов электронных микроскопов, сопоставляются реализуемые в них разрешения, обсуждаются возможности электронно-зондового ренгеновского микроанализа. В последней части пособия даются конкретные методические рекомендации по работе на растровом электронном микроскопе EVO-40, которым оснащен межресурсный центр коллективного пользования РГПУ им. А. И. Герцена.
Целев. назнач.Для широкого круга студентов и преподавателей, знакомящихся с принципами электронной микроскопии, а также студентов, магистрантов и аспирантов, осваивающих проведение исследований на растровом электронном микроскопе EVO-40.
Ключевые словаЭЛЕКТРИЧЕСТВО
ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСХЕМЫ
ДисциплинаОсновы нанотехнологий
Физическая электроника. Физические основы наукоемких технологий электроники
Модуль "Учебно-исследовательская деятельность в физическом образовании". Учебно-исследовательская деятельность в области нанотехнологий
Физическая электроника
Модуль "Физическая электроника". Физические основы твердотельной электроники
Кафедрафизической электроники

Экземпляры:

Б-ка лит. по естественно-математическим наукам
(наб.реки Мойки,48,корпус 1)
15 экз.
фундаментальная б-ка,чит.зал 2
(наб.реки Мойки,48,корпус 5)
1 экз.
Всего: 16