Информация о книге
ISBN | 978-5-9031-8784-3 |
Полочный индекс | 1961892 |
Индекс ББК | В333я73 |
Другие авторы | Пронин В. П. Рыжов И. В. Хинич И. И. |
Заглавие | Основы практической работы на сканирующем электронном микроскопе |
Продолжение заглавия | учебное пособие |
Ответственность | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена" |
Место издания | Санкт-Петербург:Фора-принт |
Год издания | 2017 |
Объем | 75 с. |
Библиография | Библиография : с. 75 (15 назв.) |
Илл. | ил., прил. |
Аннотация | Учебно-методическое пособие "Основы практической работы на сканирующем электронном микроскопе" состоит из нескольких дополняющих друг друга частей. В них рассматриваются принципы работы основных типов электронных микроскопов, сопоставляются реализуемые в них разрешения, обсуждаются возможности электронно-зондового ренгеновского микроанализа. В последней части пособия даются конкретные методические рекомендации по работе на растровом электронном микроскопе EVO-40, которым оснащен межресурсный центр коллективного пользования РГПУ им. А. И. Герцена. |
Целев. назнач. | Для широкого круга студентов и преподавателей, знакомящихся с принципами электронной микроскопии, а также студентов, магистрантов и аспирантов, осваивающих проведение исследований на растровом электронном микроскопе EVO-40. |
Ключевые слова | ЭЛЕКТРИЧЕСТВО ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСХЕМЫ |
Дисциплина | Основы нанотехнологий Физическая электроника. Физические основы наукоемких технологий электроники Модуль "Учебно-исследовательская деятельность в физическом образовании". Учебно-исследовательская деятельность в области нанотехнологий Физическая электроника Модуль "Физическая электроника". Физические основы твердотельной электроники |
Кафедра | физической электроники |
Экземпляры:
Б-ка лит. по естественно-математическим наукам (наб.реки Мойки,48,корпус 1) | 15 экз. |
фундаментальная б-ка,чит.зал 2 (наб.реки Мойки,48,корпус 5) | 1 экз. |
Всего: 16 |