Библиографическое описание:
Долгинцев, Д. М. Сканирующая электронная микроскопия: теория и практика исследований [Текст] : учебное пособие / Д. М. Долгинцев, Пронин Владимир Петрович, Хинич Иосиф Исаакович ; Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена. - Санкт-Петербург : Издательство РГПУ им. А. И. Герцена, 2018. - 85 с.
Аннотация:
Учебное пособие «Сканирующая электронная микроскопия: теория и практика исследований» состоит из нескольких дополняющих друг друга частей. В них рассматриваются принципы работы основных типов электронных микроскопов, сопоставляются реализуемые в них разрешения, обсуждаются возможности электронно-зондового рентгеновского микроанализа. В последних разделах пособия даются конкретные методические рекомендации по работе на растровом электронном микроскопе ЕVО-40 и приводятся описания трех лабораторных работ, предназначенных в первую очередь для студентов и аспирантов факультета физики РГПУ им. А. И. Герцена.
Экземпляры в фонде библиотеки:
фундаментальная библиотека - 2
библиотека литературы по естественно-математическим наукам - 18
Оглавление: